電壓降測試儀主要是對被測試物施加一定的電流，在恒流狀態(tài)下，依據歐姆定律來(lái)測量被測物電壓損耗之狀況;目的是模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境下出現的各種電性能故障，是否會(huì )影響產(chǎn)品的壽命和性能，一般開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)、繼電器、開(kāi)關(guān)、線(xiàn)材線(xiàn)束、壓接線(xiàn)端子、連接器等相關(guān)產(chǎn)品之電壓降要求會(huì )比較高，也比較嚴格。

　　電壓降測試儀適用于測量不可重接插頭插銷(xiāo)與連接插頭引出線(xiàn)等類(lèi)似接線(xiàn)口的電壓降，從而判斷接線(xiàn)口優(yōu)劣，儀器具有可調的恒電流輸出，微電壓測試和數碼管顯示。測試可設定時(shí)間，時(shí)間到和電流超高關(guān)斷電路測量。